溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)，考核和確定電子電工、汽車電器、材料等產(chǎn)品在進(jìn)行高低溫的溫度沖擊變化后的參數(shù)及性能。適用于學(xué)校、工廠、軍用、科研等單位。
溫度沖擊試驗(yàn)箱按照GJB150.5-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)制造。滿足GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89等標(biāo)準(zhǔn)。
溫度范圍：a：-40℃~150℃ b：-55℃~150℃ c：-65℃~150℃
溫度波動(dòng)：高溫箱與低溫箱均≤±0.5℃（恒溫時(shí)）
試驗(yàn)溫度保持時(shí)間：1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長者為準(zhǔn)。
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：從高溫區(qū)到低溫區(qū)或從低溫區(qū)到高溫區(qū)≤15s
循環(huán)次數(shù)：3次
樣品區(qū)承重：20kg、30kg、50kg
控制系統(tǒng)：采用進(jìn)口LED數(shù)顯（P.I.D+S.S.R）微電腦集成控制器
制冷系統(tǒng)：采用法國原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷 |
